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產品名稱: 鏡片反射率測定儀
產品型號: USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀
產品展商: 奧林巴斯
產品文檔: 無相關文檔
簡單介紹
近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W 可以高速&高精細地進行可視光區域至近紅外區域的大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細微區域、曲面的反射率，因此*適用于光學元件與微小的電子部件等產品。
鏡片反射率測定儀
的詳細介紹
奧林巴斯的USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀可以高速&高精細地進行可視光區域至近紅外區域的大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細微區域、曲面的反射率，因此*適用于光學元件與微小的電子部件等產品。
實的測定功能
使用一臺即可進行反射率、膜厚、物體顏色、透過率、入射角45度反射率的各種分光測定。
◆測定反射率
測定以物鏡聚光φ17～70μm的微小點的反射率。
◆測定膜厚
活用反射率數據，測定約50nm～約10μm的單層膜、多層膜的膜厚。
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◆測定物體顏色
根據反射率數據顯示XY色度圖、L*a*b色度圖及相關數值。
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◆測定透過率
從受臺下部透過φ2mm的平行光，測定平面樣品的透過率。（選配）
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◆測定入射角為45度的反射率
從側面向45度面反射φ2mm的平行光，測定其反射率。（選配）
域的高精度&高速測定
◆實現高速測定
使用平面光柵及線傳感器進行全波長同時分光測定，從而實現高速測定。
◆*適用于測定細小部件、鏡片的反射率
新設計了可以在φ17~70μm的測定區域中進行非接觸測定的專用物鏡。通常的分光光度計不能進行測定的細小電子部件或鏡片等的曲面，也可以實現再現性很高的測定。
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◆測定反射率時，不需要背面防反射處理
將專用物鏡與環形照明組合，不需要進行被檢測物背面的防反射處理，就可測定*薄0.2mm的反射率*。
◆可選擇的膜厚測定方法
根據測定的分光反射率數據進行單層膜或多層膜的膜厚解析。可以根據用途選擇*佳的測定方法。
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近紅外顯微分光測定儀 USPM-RU-W：規格
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反射率測定
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透過率測定*1
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45度反射測定*1
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名稱
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近紅外顯微分光測定儀
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近紅外顯微分光測定儀用
透過測定選配件
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近紅外顯微分光測定儀用
45度反射測定選配件
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型號
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USPM-RU-W
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測定波長
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380～1050nm
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測定方法
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對參照樣品的比較測定
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對100%基準的透過率測定
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對參照樣品的比較測定
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測定范圍
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參照下列對物鏡的規格
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約?2.0mm
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測定
再現性（3σ）*2
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反射率測定
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使用10×、20×物鏡時
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±0.02[%]以下（430-1010nm）、
±0.2[%]以下（上述以外）
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±1.25[%]以下（430-1010nm）、
±5.0[%]以下（左側記載除外）
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使用40×物鏡時
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±0.05[%]以下（430-950nm）、
±0.5[%]以下（上述以外）
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厚膜測定
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±1%
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-
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波長顯示分解能
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1nm
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照明附件
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專用鹵素燈光源 JC12V 55W（平均壽命700h）
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位移受臺
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承載面尺寸：200(W)×200(D)mm
承重：3 kg
工作范圍：(XY) ±40mm, (Z)125mm
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傾斜受臺
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－
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承載面尺寸： 140(W)×140(D)mm
承重： 1 kg
工作范圍：(XT) ±1°, (YT) ±1°
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裝置質量
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主體：約26 kg（PC除外）
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主體：約31 kg（PC除外）*3
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控制電源箱：約6.7kg
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裝置尺寸
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主體部位：360(W)×446(D)×606(H)mm
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主體部位：360(W)×631(D)×606(H)mm
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控制電源箱：250(W)×270(D)×125(H)mm
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電源規格
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輸入規格：100-240V (110VA) 50/60Hz
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使用環境
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水平無振動的場所
溫度：15～30℃
濕度：15～60％RH（無結露）
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*1 選件組件 *2 本社測定條件下的測定 *3 裝配透過率測定套件與45度反射測定套件的總重量為33kg。
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對物鏡
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型號
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USPM-OBL10X
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USPM-OBL20X
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USPM-OBL40X
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倍率
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10x
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20x
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40x
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NA
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0.12
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0.24
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0.24
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測定范圍*4
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70μm
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34μm
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17μm
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工作距離
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14.3mm
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4.2mm
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2.2mm
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樣品的曲率半徑
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±5mm～
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±1mm～
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±1mm～
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*4 點徑